1.專利、商標、著作或其他智慧財產權之內容:
積體電路晶片及其檢查方法
2.專利、商標、著作或其他智慧財產權之取得日期:107/11/01
3.取得專利、商標、著作或其他智慧財產權之成本:NT$ 51,900
4.其他應敘明事項:
積體電路晶片及其檢查方法。積體電路晶片的目標電路產生目標信號。積體電路
晶片的轉態偵測電路於初始化期間偵測目標信號的轉態,以產生轉態偵測結果。
依據轉態偵測結果判斷目標電路的初始化是否正常。
<摘錄公開資訊觀測站>