未上市  

1.專利、商標、著作或其他智慧財產權之內容:

自刷新控制裝置以及揮發性半導體記憶裝置

2.專利、商標、著作或其他智慧財產權之取得日期:106/12/11

3.取得專利、商標、著作或其他智慧財產權之成本:NT$ 49,600

4.其他應敘明事項:

與以往例相比，在晶圓測試的修整前實施自刷新測試，藉此來大幅改善晶圓測試

中的良率。一種自刷新控制裝置，用於具備自刷新控制電路的揮發性半導體記憶

裝置，所述自刷新控制電路用於基於來自自刷新計時器的第1控制信號來控制揮發

性半導體記憶裝置的自刷新，所述自刷新控制裝置包括：邏輯電路，在測試模式下

，使外部自刷新請求信號輸入至所述自刷新控制電路。此處，所述邏輯電路在測試

模式下，取代所述第1控制信號而使所述外部自刷新請求信號輸入至所述自刷新控

制電路。而且，所述邏輯電路取代所述第1控制信號而使所述外部自刷新請求信號

輸入至所述自刷新控制電路，藉此來使所述自刷新計時器的動作無效。

<摘錄公開資訊觀測站>