未上市  

1.專利、商標、著作或其他智慧財產權之內容:

半導體裝置、測試裝置及測試系統

2.專利、商標、著作或其他智慧財產權之取得日期:106/07/21

3.取得專利、商標、著作或其他智慧財產權之成本:NT$ 70,900

4.其他應敘明事項:

提供一種與先前技術相比電路構成簡單且可高精確度觀測內部電壓波形的半導體

裝置，所述半導體裝置包括：測試模式的控制電路，其檢測半導體裝置在既定的

觀測期間中進行動作時的內部電壓而進行波形觀測；以及比較單元，其在所述觀

測期間中將所述內部電壓與既定的基準電壓進行比較而輸出比較結果訊號，使所

述基準電壓變化而進行所述比較，並將所述觀測期間的內部電壓的電壓波形的比

較結果訊號輸出到測試裝置。

<摘錄公開資訊觀測站>