1.專利、商標、著作或其他智慧財產權之內容:
半導體元件的製作方法
2.專利、商標、著作或其他智慧財產權之取得日期:105/10/21
3.取得專利、商標、著作或其他智慧財產權之成本: NT$ 57,700
4.其他應敘明事項:
本發明提出了一種半導體元件的製作方法,其步驟包含:在基底上形成一閘極堆疊
結構,其包含一浮動閘、一閘極間介電層、一控制閘、以及一金屬層,在閘極堆疊
結構上形成一共形襯層,在襯層上覆蓋一遮罩層,其中遮罩層低於金屬層使得部分
襯層裸露而出,以及進行一氮化步驟將裸露的襯層轉化成氮化襯層,使得閘極堆疊
結構中至少包含金屬層的部分會為氮化襯層所覆蓋。
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