1.專利、商標、著作或其他智慧財產權之內容:
半導體線路製作工藝
2.專利、商標、著作或其他智慧財產權之取得日期:104/11/18
3.取得專利、商標、著作或其他智慧財產權之成本:NT$75,833
4.其他應敘明事項:
本發明提出了一種用以形成特定圖形特徵的半導體製程,其步驟包含:在一基底
上形成一目標層、一硬遮罩層、以及複數個等間隔排列的內核體,於該些內核體
的側壁形成間隙壁體,去除該些內核體使得該些間隙壁體在該硬遮罩層上呈間隔
排列,以該些間隙壁體為遮罩圖形化該硬遮罩層,去除一預定區域外的硬遮罩體,
分別在該預定區域最兩側的數個該硬遮罩體上覆蓋一光阻,最後,以該光阻與剩
餘的硬遮罩體為遮罩圖形化該目標層。
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